PARAM博每 CHY-C2A薄膜測(cè)厚儀

高精度CHY-C2A薄膜測(cè)厚儀（GB/T 6672）

薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品名稱(chēng)：測(cè)厚儀，薄膜測(cè)厚儀，紙張測(cè)厚儀，機(jī)械接觸式薄膜測(cè)厚儀
薄膜測(cè)厚儀價(jià)格：*，咨詢(xún)！
薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品用途：適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
1. 接觸式測(cè)量
2. 測(cè)頭自動(dòng)升降
3. 手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式
4. 數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印
5. 顯示zui大值、zui小值、平均值和統(tǒng)計(jì)偏差
6. 標(biāo)準(zhǔn)接觸面積、測(cè)量壓力（非標(biāo)可選）
7. 標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定
薄膜測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：
1. 測(cè)量范圍：0～2mm（常規(guī)）
                   0～6mm；12mm（可選）
2. 分 辨 率：0.1μm
3. 測(cè)量速度：10次/min（可調(diào)）
4. 測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
5. 接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
           注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
薄膜測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
薄膜測(cè)厚儀依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777
薄膜測(cè)厚儀關(guān)鍵字：測(cè)厚儀，薄膜測(cè)厚儀，紙張測(cè)厚儀，機(jī)械接觸式薄膜測(cè)厚儀
更多信息歡迎登錄：www.labthink。。ｃｏｍ，或！